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■ 12 bit A/D
■ 同时高分辨率采样所有模式
■ 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合
■ 实时显示光束2D/3D图像
■ 测量光束的中心、椭圆度和功率
■ Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输
■ 可保存快照图像
■ 自动验证分析报告
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传感器类型 |
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Si UV-Si IR IRE |
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光谱范围 |
Si UV-Si IR IRE |
350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
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刀片数 |
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3（BA3头） 7（BA7头） |
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光束尺寸范围 |
BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) BA7-Si和BA7-UV（圆形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5 |
3um-5mm 15um-10mm 15um-9mm 3um-3mm 15um-3mm 3um-5mm 15um-5mm |
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光束宽度分辨率 |
>100um <100um |
1um 0.1um |
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光束宽度精确度 |
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±2% |
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功率范围 |
Si和UV-Si探头 InGaAs探头 |
10uW-1W(有衰减片) 10uW-5mW(无衰减片) |
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功率精确度 |
Si和UV-Si探头 InGaAs探头 |
±5% ±10% |
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功率分辨率 |
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0.1uW |
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位置精确度 |
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±15um |
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位置分辨率 |
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1um |
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饱和度 |
Si和UV-Si探头 |
0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9) |
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测量速率 |
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5Hz |
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温度 |
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0℃-35℃ |
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PC接口 |
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USB2.0 |
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