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产品详情
激光光束分析仪 (已下架,请搜索其它)
1、LS-2000型
主要功能:

 可以获取和分析激光光斑光强的二维分布   

 获取激光光斑光强的三维分布图(任意方位、俯仰角)  

 光斑直径(按半高全宽、1/e2、刀口法3种定义)    

 高斯拟合(坐标轴旋转选取光斑主轴)   

 连续采集(脉冲激光的软触发 )

 图像采集卡zui多可接3路图像探测器, 软件亦可对来自不同探测器的信号方便切换、独立处理。

系统构成

基本系统: 专用图象采集卡,用于采集来自光图象探测器的模拟信号,将其变为PC机可接受的数字信号后送入PC机处理; 专用软件包:由“实时探测”,“存贮功能”,“分析测试”等几部分组成。

 图象探测器: 标准配置:1/2英寸CCD(电荷耦合器件)探测器,光谱响应为可见及近红外波段(360nm-1100nm),涵盖大多数常用激光器的波长 。图像敏感面积为 6.4 x 4.8 mm2。 

 光学暗箱 :光学暗箱提供分光、衰减系统,使被测激光束无畸变地衰减到 CCD的zui佳响应区(线性工作区),并屏蔽来自多方面的杂散光。 分光部分由石英楔形分束器、楔形反射器构成;衰减部分由固定衰减片组、连续衰减器构成。


主要特点

■ LS2000激光光束分析仪是基于PC机的“装配式”系统;

■ 可根据用户的需求及自有资源情况灵活配置。

■ 硬件可靠性高,屏幕界面为英文,配有中文说明书。

■ 全套LS-2000系统(含软件包、数据采集卡、机箱、导轨、CCD及分光、衰减系统)

2、BE-410型
主要功能:

■ 获取、分析激光光斑光强的二维分布;

■ 获取激光光斑光强的三维分布图(任意方位、俯仰角);

■ 可测量X、Y方向的光斑直径(半高全宽FWHM直径及1/e2定义的直径);

■ 高斯拟合(可通过旋转坐标轴选取光斑主轴);

■ 可采集、分析连续、各种重复频率、单次脉冲激光的光斑 ;

■ 可对平顶光斑进行分析,可测发散角;

■ 可保存全部有价值的图像和数据;

■ 数据库备有典型模拟光斑,供练习时调用;

■ 可于测量光斑的同时测量激光功率/能量(需备有激光功率/能量计,本系统不含)

系统构成

■ BE-410激光光束分析仪采用数字CMOS图像探测器(1/1.8英寸,图像敏感面积为 6.6 x 5.32 mm2,像素1280X1024), 无须图像采集卡,可配用笔记本电脑或台式电脑工作,中文界面。   

■ CMOS装在光学暗箱内,可以屏蔽来自各方面的杂散光。光学暗箱内提供分光、衰减系统,结合软件功能使被测激光束无畸变地衰减到CMOS的zui佳响应区(线性工作区)。

■ 光学暗箱可沿光学导轨滑动,可测发散角测量等参数。光学暗箱还可相对导轨做横向和垂直方向的位置微调,以便于对光调节。