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束剖面测量的目的是为了增加通过优化的激光光斑的处理速度。通过光束分析仪控制光束形状和光束位置可以确保高质量。

激光测量的这个基本功能是通过软件Beamlux来实现的。附带的软件工具，如 2D 缩放和 点追踪，以及设定时间值的多种测量参数，是质量控制的理想工具。只要需要精确定位或过程监测，激光测量就发挥重要作用。

Metrolux测量头适应激光系统和应用程序的不同要求。通过CCD / CMOS传感器技术，还可探测紫外和红外波长以外的地区，全球范围内使用。

LBM2.0是zui新的metrolux光束分析仪，用于简单测量几乎所有zui重要的光束参数，它的高精度必能 。

如你所愿LBM2.0光束分析仪外型小巧，节约安装空间，主光束度量参数测量精确，操作简单。 使用的索尼 Pregius CMOS 传感器提供 2 百万像素的分辨率。LBM2.0由于其体积小，解决了以前光束测量无法在激光系统中安装的问题。可以在生产线上安装偏转镜，激光束位置和尺寸控制，或光束参数的连续控制。全新的专门为生产过程测量任务开发和优化的分析软件使用直观，可快速启动光束剖面分析。特别是定位和激光束的调整都能很好控制。测量系统在自动化生产线流程的集合非常容易实现。

采用高分辨率的> 2百万像素和约 6μm的像素尺寸的索尼pregius CMOS传感器。该传感器的低噪声和高线性度确保所有 。波束参数的评价精度zui高 光束分析仪对所有常见的可见/近红外波长进行优化，并开机即用。它的小尺寸允许在许多激光系统中进行使用，尤其在无光 束分析仪的激光系统中（需要监控功能的），例如后面偏转镜 系统的调整、在生产过程中激光光束的尺寸和位置的控制、光 。束参数的连续控制 分析软件，新开发和优化的测量生产任务，可直观操作。测量技术集成到自动化生产过程中，可以很容易实现。软件功能 如自动曝光时间， 自动选定区域调整或者自动ROI调整，实时 评价和一个非常高的图像显示图像刷新速率zui短， 方便在zui短 。的时间内调整激光光束 综合配件（ND过滤器，近场镜头）也适用于非常小激光点和高。功率激光束的测量。

BM8304- 激光光束测量仪 由坚固紧凑的光束分析仪相机BPC8304ML和束剖面分析软件Beamlux组成:一个标准的光束分析仪，用于所有适用的行业。

使用的传感器具有对激光光束分析非常重要的高信号线性度和良好的 信噪比。软件使用 Beamprofiling 相关标准 EN ISO 11145、 11146、11670和13694。光束剖面相机BPC8304使用具有1,4兆像素的分辨率和6,45 微米的像素尺寸的CCD传感器。波长范围 340-1100 nm， 应用范围覆盖所有主要激光波长。数据接口是千兆位以太网（千兆以太网）。不象火线接口，无需额外安装接口卡，因为绝大多数PC都有充足装备。电缆长度可达100米，使集成到生产线的安装毫无障碍。