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ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)
ProView XD是一款高度先进的干涉仪,用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的,在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下,干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度,ProView XD包括高度先进的全自动功能,用于端面表面的2D和3D地形分析。
产品特点:适用于 220 至 1200 μm 的光纤包层直径、 2D 和 3D 地形、 PC 控制器 GUI 的条纹和检查模式、 通过自动角度估计,检测速度非常快、 可选择使用通过/失败切割角度指示、 检查端面特性,如平面度、垂直度、锯齿和污染、 抓取并保存 2D 和 3D 图像以及切割数据
应用领域:
单价
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产品型号
IF-12-01000
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主要参数
详细参数
产品配置
可选配置表
核心参数
光纤直径 视野 分辨率
220 µm – 1200 µm ~1300µm 2560 x 1920 (4.92 MP)
尺寸图