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用于半导体检测显微镜 三丰Mitutoyo FS70 >
FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光)
FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光)
日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长,倍数高,能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头,显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X,工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm,精确调整分辨率可达0.1mm,并可同时进行视频输出和双目观测。 FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。
产品特点:采用Mitutoyo远场校正镜头、 三端输出设计可轻松接收视频、 转盘可接最多四个物镜
应用领域:切割、修整、校正、 给半导体电路做标记、 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)、 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障、
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FS70L-TH
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瞳距调节范围 光通比
51 - 76mm 可调100/0 or 0/100
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