| 波长范围 | 空间分辨率 | 插损动态范围 |
|---|---|---|
| 1525-1610nm | 10um | 18 dB |
型号对比
参数 | OBR 5T-50 | OBR 4200 | OBR 4600系列 |
波长范围 | 1546.69nm | 1542±2nm | (OBR 4613) 1270-1340nm (OBR 4600) 1525-1610nm |
灵敏度 dB | -125 | -125 | -130 |
空间分辨率 mm | 0.02 | 1.5 | 0.01 |
插损动态范围 dB | 10 | 16 | 18 |
回损动态范围 dB | 65 | 50 | 70 |
相位测量功能 | 无 | 无 | 有 |
传感功能 | 无 | 无 | 有 |
Max. 测量长度 m | 8.5(可延长到16) | 500 | 2000 |
测试时长 s | 0.084(8.5m) | 3.8(10m) | 6(30m) |
点扫描模式
点扫描模式允许扫描被测设备的任何1米或2米区域，从而缩短测量时间和更小的数据文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光调谐速度进行的测量。
点扫描测量速率 | ||||
Mode | - | 30 m mode | 70 m mode | Extended Range (2000 m) |
扫描的子区域 | - | 1 or 2 m | 1 or 2 m | 80 m |
波长范围 | 3.2 nm | - | - | 0.15 Hz |
5 nm | 3.7 Hz | 2.9 Hz | - | |
20 nm | 1.8 Hz | 1.2 Hz | - | |
80 nm | 0.5 Hz | - | - | |
z佳采样分辨率 | 10 μm | 20 μm | 0.25 mm | |
OBR 4600背光反射计参数表
参数 | 规格指标 | 单位 | ||
Max. 测量长度: | ||||
标准模式 | 30或70 | meters | ||
长量程模式 | 2000 | meters | ||
空间分辨率（两点间）1: | ||||
10um(30米内) | um | |||
20um（70米内） | mm | |||
1mm（2000米内） | mm | |||
死区: | ||||
等于两点间的空间分辨率 | ||||
波长范围2： | ||||
1270-1340 或 1525-1610 | nm | |||
波长 | ||||
分辨率（Max. ） | 0.02 | pm | ||
精度3 | ±1.5 | pm | ||
回损: | ||||
动态范围4 | 70 | dB | ||
总范围 | 0~-125 | dB | ||
灵敏度 | -130 | dB | ||
分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
回损精度 | ± 0.1 | dB | ||
插损: | ||||
动态范围5 | 18 | dB | ||
分辨率 | ± 0.05 | dB | ||
插损精度 | ± 0.10 | dB | ||
群延时: | ||||
精度 | 1.0 | ps | ||
分布式传感6: | ||||
空间分辨率 | ±1.0 | cm | ||
温度精度7 | ±0.1 | ℃ | ||
应力精度7 | ±1.0 | μstrain | ||
测量时间8: | 标准模式 | 快速扫描11 | 定点模式11 | |
5nm扫描时间 | 3 | 1.6 | 0.3 | s |
时间与扫描波长速度 | 2.1s+0.14s/nm | 1.3s+0.06s/nm | 0.15s+0.02s/nm | |
长量程（2km）扫描时间 | 20 | s | ||
所有参数适用于单模光纤。
对于多模光纤，参数仅为名义值
1. 在整个长度内。
2. 名义范围。
3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。
4. 对于2千米的选项，回损动态范围是60dB。
5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平（~-100dB/mm）低于背景噪声（~-118dB/mm）前的单程损耗。
分布式传感
分布式传感作为一种选择，允许您使用OBR 4600通过分析标准现成光纤固有的瑞利散射来检测和监测连续应变和温度，用户指出的空间分辨率低至0.32毫米。或者，Luna ODiSI平台针对传感应用进行了优化，并提供易于使用的，可重复和稳健的传感器测量解决方案。具有分布式传感选项的OBR 4600在需要额外灵活性和定制的专业或研究应用中te别有用。
示例应用
硅光子器件构建在硅光子平台上，代表了一种高水平的功能，可小型化为很高的封装密度。OBR 4600的高空间分辨率和高灵敏度提供了以非常高的细节水平查看设备内部的能力。
例如，UCSB的光电子研究小组在硅平台上制造了一条一米长的螺旋延迟线。OBR 4600用于测量光子集成电路（PIC）内部的分布损耗，该电路的尺寸仅为1cm2。
波导的水平部分在螺旋上的扫描如左下图所示。波导交叉点间隔仅50微米，清晰可见。
1米的螺旋波导显示在扫描波导中，与下面的螺旋环交叉。右图清楚地显示了一米螺旋上的分布损耗，包括水平波导交叉处的散射。
Catalog # | Description | Includes |
OBR 4600 | 光学后向散射反射计，1525 nm-1610 nm | OBR 4600主机，适用于C和L波段和标准长度模式（30米和70米），仪器控制器（工作站级笔记本电脑）和配件套件。 |
OBR 4613 | 光学后向散射反射计，1270 nm-1340 nm | 用于O波段和标准长度模式（30米和70米）的OBR 4600主机、仪器控制器（工作站级笔记本电脑）和配件套件。 |
OPT06009 | 2000m测量扩展型号 | 可选择扫描长度不超过2km、样本间距为1mm的设备。 |
OPT06004 | 桌面分析软件 | 仅使用保存的OBR测量数据文件，提供OBR 4600的所有分析和数据可视化的软件。 |
OPT06008 | 自定义软件开发工具包 | 带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。 |
无
