• 8-12μm宽带抗反射 (BBAR) 硅Si窗片

    BBAR(宽带抗反射)硅窗片专为优化光学性能而设计,具备卓越的透光率和低反射特性,适用于广泛的光学应用,包括激光系统、红外成像和传感器设备。

    产品特点超宽带减反射;高透过率;低热透镜效应;环境稳定性;多规格可选

    产品货号

    应用领域高功率激光系统 | 红外热成像 | 空间光学 | 半导体加工 | 科研实验

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    Moli

    电话:13061644116

    邮箱:moli@microphotons.com

    主要参数
  • 核心参数
  • 波段 基材 min Tavg

    8-12μm Si 88 %

  • 尺寸图
  • 详细参数

    编号

    型号

    基材

    min Tavg %

    716.700.640

    BBAR-3000-5000 nm Ø25.4×0.5 mm

    Si

    97 %

    716.700.641

    BBAR-3000-5000 nm Ø25.4×1.0 mm

    Si

    97 %

    716.700.642

    BBAR-3000-5000 nm Ø100.0×0.5 mm

    Si

    97 %

    716.700.643

    BBAR-3000-5000 nm Ø100.0×1.0 mm

    Si

    97 %

    716.700.650

    BBAR-8000-12000 nm Ø25.4×0.5 mm

    Si

    88 %

    716.700.651

    BBAR-8000-12000 nm Ø25.4×1.0 mm

    Si

    88 %

    716.700.652

    BBAR-8000-12000 nm Ø100.0×0.5 mm

    Si

    88 %

    716.700.653

    BBAR-8000-12000 nm Ø100.0×1.0 mm

    Si

    88 %

    716.701.360

    BBAR-2500-14000 nm Ø25.4×0.5 mm

    Si

    2.5-14 µm 70 %

    716.701.370

    BBAR-2500-14000 nm Ø25.4×1.0 mm

    Si

    2.5-14 µm 70 %

    716.701.340

    BBAR-2500-14000 nm Ø100.0×0.5 mm

    Si

    2.5-14 µm 70 %

    716.701.350

    BBAR-2500-14000 nm Ø100.0×1.0 mm

    Si

    2.5-14 µm 70 %

    特性曲线

    cf10e6f8-a488-4386-85f7-1ab405a45ec9.jpg

    一般规格

    一般规格:

    直径公差:Ø25.4 mm +0/-0.2 mm,Ø75.0 and Ø100.0 mm +0/-0.3 mm

    厚度公差:+/- 0.2 mm

    表面光洁度:S&D 60/40

    CA:90 % center

    每个窗都提供室温和法向入射角下的光谱曲线。

    可选配置表

    产品资料

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