光斑分析仪

概述

1、基本定义

一种用于测量和表征光束二维强度分布的光学仪器,通过探测器(如CMOS、CCD或扫描狭缝)捕获光斑的实时空间能量分布,并计算关键参数(如束腰直径、椭圆度、M²因子、峰值强度等),以评估光束质量及光学系统性能。

2、核心特点

多维度量化光斑物理特性(强度、尺寸、对称性、M²因子等),实现光束质量的全面诊断与优化。

Sherry

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Beam On WSR光斑分析仪 190-1600nm (最大帧速25Hz)

BeamOn WSR是宽光谱范围的CCD型激光光斑分析仪,CCD面积6.47x4.83mm(752x582)响应光谱范围190~1600nm。

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DUMA BeamAnalyzer 刀口型光斑分析仪(光束质量分析仪) 190-1100nm/1200-2700nm

DUMA公司的刀口型(Knife edge)BeamAnalyzer光斑分析仪采用了先进的技术上认可技术,Shou先在不同的角度都有刀刃轮廓,其次在不同的断层重建光强分布以得到激光整体空间强度分布图,是对连续激光器、光纤和激光二极管生成高分辨率波束宽度和轮廓的测量,以2D和3D视图形式显示光束能量分布。BeamAnalyzer光斑分析仪具有强大的灵活性、速度,便于各种波束测量,将在实验室、工厂和现场满足广泛的自动化激光分析需求。

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BeamOn LA 强脉冲光及大尺寸激光光斑分析仪 VIS-NIR 350-1310nm

BeamOn LA是光束诊断测量系统,用于实时测量连续或脉冲大尺寸激光光束,可测量激光光束参数,包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能,用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口,软件驱动设备,可以通过高速USB2.0口连接到电脑,在windows 7/8操作系统上运行。

产品信息产品型号 光谱响应损伤阈值 操作

350-1310nm 强脉冲光及大尺寸激光光斑分析仪 BeamOn LA VIS-NIR VIS-NIR 350-1310nm100 J/cm2 加入询价单

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BeamOn 光束质量分析仪,光斑分析仪 190-1310nm/1550nm

BeamOn 是光束诊断测量系统,用于实时测量连续或脉冲激光光束,可测量激光光束参数,包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能,用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口,软件驱动设备,可以通过高速USB2.0口连接到电脑,在windows 7/8操作系统上运行。CCD轮廓仪超越了相机式光束轮廓仪有限的动态范围,每次测量都是在不同的衰减或电子快门速度下进行的。

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BladeCam2-HR/XHR系列 CMOS 光斑分析仪(光束轮廓分析相机) 190-1605nm

½" CMOS 光束分析照相机,超高速USB 3.0,支持190-1605nm,通用型和高像素型可选,采用标准的无边缘式无窗探测器结构,采用电子快门,最短曝光时间可达40 µs。BladeCam2-HR系列配备功能齐全且可定制的软件,软件可免费更新,许可证无需付费,并提供无限制的软件安装。

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WinCamD-LCM系列 1" CMOS 相机型光束质量分析仪

1”CMOS 光束分析照相机,超高速USB 3.0,190-1605nm,有效面积11.3×11.3 mm,4.2 MP,5.5×5.5 μm像素点,光和电双触发的全局快门,频率更新至60Hz,WinCamDTM-LCM系列是连续和脉冲激光光束分析的理想工具。新的高分辨CMOS探测器意味着无拽尾,快门和触发选项使脉冲捕获简单化。LCM系列配备DataRay功能齐全,可定制,以用户为中心的软件,软件可免费更新,许可证无需付费,并提供无限制的软件安装。

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