偏振测量仪

  • 筱晓光子推出的偏振态测试仪,一种用于高精度测量光波偏振特性的专业仪器,其核心功能是解析光的斯托克斯参数(Stokes Parameters)或琼斯矢量(Jones Vector),全面表征偏振态(如线偏振、圆偏振、椭圆偏振)及偏振相关参数(如偏振度、偏振主轴方向)。

    通过高速偏振分光与相干检测技术,实现全斯托克斯参数的高精度同步测量,兼具宽光谱适配性与动态偏振态跟踪能力。

  • 筱晓光子推出的消光比测试仪,一种专用于量化光学信号偏振纯度或数字光开关性能的精密仪器,其核心功能是测量消光比(Extinction Ratio, ER),即高电平与低电平光功率比的对数值,评估光器件(如偏振器、调制器、激光器)的偏振选择性或开关对比度。

    通过高动态范围光功率比对技术(>30dB),实现偏振/开关消光比的μs级高精度测量(0.01dB分辨率),兼具自动校准与多场景适配能力。

  • 筱晓光子推出的CMOS黑白相机,偏振敏感,一种将偏振探测功能与单色CMOS成像芯片集成的光学传感器,其核心功能是通过像素级偏振滤光阵列(如0°、45°、90°、135°线性偏振片)同步捕获场景的光强与偏振态信息,输出高对比度的偏振图像及斯托克斯参数(SOP/DOP)。

    通过像素级偏振滤光阵列与单色高灵敏度芯片的融合,实现斯托克斯参数的实时同步成像,兼具高动态范围与弱光探测能力。

  • 筱晓光子推出的双折射成像显微镜,一种利用光学各向异性材料对偏振光的相位延迟效应,实现高对比度显微成像的专业光学系统。其核心功能是通过定量测量样品的双折射特性(如延迟量、快轴方向),揭示晶体结构、应力分布或生物分子有序度等微观信息。

    基于偏振干涉原理,将样品的各向异性(Δn·d/快轴方向)转化为高对比度图像,兼具纳米级相位灵敏度与定量分析能力。

  • 筱晓光子推出的双折射成像系统,一种基于偏振光学原理的精密成像技术,通过检测和分析样品对入射偏振光的双折射效应(即各向异性材料引起的相位延迟和偏振态改变),实现对材料内部结构、应力分布或分子取向的高对比度可视化与定量测量。

    通过偏振态精密调控与干涉测量技术,实现样品各向异性(Δn·d/快轴方向)的纳米级空间分辨与动态可视化,兼具定量分析与实时成像能力。

  • 筱晓光子推出的Soleil-Babinet补偿器,一种可精密调节光程差的偏振光学器件,其核心功能是通过双折射晶体的相对位移,在宽波长范围内(紫外至红外)产生连续可调的相位延迟(0至多波长),用于偏振态调控、波前补偿或双折射测量。

    通过双折射楔形晶体对的精密位移实现相位延迟的连续可调(0至多波长),兼具宽光谱兼容性与亚波长级分辨率,且支持零位复位校准。

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