
磁光克尔
1、基本定义
指线偏振光在磁化材料表面反射后偏振态发生旋转的现象,其旋转角度与材料磁化强度相关,可用于表征磁性材料的磁畴结构和动态特性。
2、核心特点
包括克尔旋转角灵敏度(deg/nm)、磁场分辨率(A/m)、信噪比(SNR)、激光波长依赖性及成像空间分辨率(μm),这些参数直接决定磁性材料畴结构观测和动态磁化测量的精度与可靠性。
Moli
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用于晶圆的纵向克尔效应量测系统 BH-618SK
用于8英寸或12英寸晶圆的硬盘磁头和磁传感器目标映射测量的非接触式评估系统。
产品信息产品型号 光源测量克尔效应 操作
用于晶圆的纵向克尔效应量测系统 BH-618SK
BH-618SK
二极管激光器(408nm 或 650nm)纵向克尔效应 加入询价单
用于晶圆的纵向克尔效应量测系统 BH-618SK
BH-618SK
二极管激光器(408nm 或 650nm)纵向克尔效应 加入询价单
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用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25
用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。
产品信息产品型号 光源测量克尔效应 操作
用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25
BH-810CPC25
二极管激光器(408nm 或 650nm)极向克尔效应 加入询价单
垂直磁各向异性评价系统 BH-R810
BH-R810
二极管激光器 (408nm)极向克尔效应 加入询价单
用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25
BH-810CPC25
二极管激光器(408nm 或 650nm)极向克尔效应 加入询价单
垂直磁各向异性评价系统 BH-R810
BH-R810
二极管激光器 (408nm)极向克尔效应 加入询价单
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垂直磁各向异性评价系统 BH-R810
在固定磁场方向下具有旋转样品架的角度依赖性分析系统。
产品信息产品型号 光源测量克尔效应 操作
垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC
BH-810CPC
二极管激光器 (408nm)极向克尔效应 加入询价单
垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC
BH-810CPC
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热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统 BH-802HM
产生磁场±6.5T的热(Thermal)辅助磁记录介质(HAMR或TAMR)非接触评估系统。
产品信息产品型号 光源测量克尔效应 操作
热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统
BH-802HM
二极管激光器 (408nm)极化克尔效应 加入询价单
热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统
BH-802HM
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软磁层评价系统 BH-618HS-P20
软磁层的非接触式评估系统,例如具有映射和倾斜角测量功能的硬盘介质中的 SUL。
产品信息产品型号 光源测量克尔效应 操作
软磁层评价系统 BH-618HS-P20
BH-618HS-P20-780
二极管激光器780nm纵向克尔效应 加入询价单
软磁层评价系统 BH-618HS-P20
BH-618HS-P20-780
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垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC 系列
具有映射评估功能的硬盘垂直记录介质(PMR)非接触评估系统。
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微型克尔环路测量系统 BH-PI920 系列
基于二极管激光器的克尔环路测量系统。可进行几微米尺度的显微局部测量。
产品信息产品型号 光源测量克尔效应 操作
微型克尔环路测量系统 BH-PI920 系列
BH-PI920-408
二极管激光器 (408nm)极向或纵向克尔效应 加入询价单
微型克尔环路测量系统 BH-PI920 系列
BH-PI920-408
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克尔环路测量和域观测系统 BH-1071 系列
用于动态(实时)磁畴观测和显微克尔环测量的组合系统。
产品信息产品型号 光源目标克尔效应 操作
克尔环路测量和域观测系统 BH-1071
BH-1071-650
二极管激光器650nm极向或纵向克尔效应 加入询价单
克尔环路测量和域观测系统 BH-1071
BH-1071-650
二极管激光器650nm极向或纵向克尔效应 加入询价单
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