1、基本定义

一种基于偏振光学原理的精密成像技术，通过检测和分析样品对入射偏振光的双折射效应（即各向异性材料引起的相位延迟和偏振态改变），实现对材料内部结构、应力分布或分子取向的高对比度可视化与定量测量。

2、核心特点

通过偏振态精密调控与干涉测量技术，实现样品各向异性（Δn·d/快轴方向）的纳米级空间分辨与动态可视化，兼具定量分析与实时成像能力。