1、基本定义

是一种通过光学或电子束成像原理，结合精密机械结构和信号处理技术，实现对微观样本（纳米至毫米级）高分辨率观测和分析的仪器系统。

2、核心特点

包括分辨率（光学显微镜达200nm，电子显微镜达0.1nm）、放大倍数（光学×50-×2000，电子×1000-×1,000,000）、数值孔径（NA 0.1-1.4）及工作距离（0.1mm-30mm），其创新的"多模态协同成像"技术可同步实现形貌（SEM）、成分（EDS）和结构（TEM）分析，在纳米材料表征（原子级缺陷识别）、生物活体观测（毫秒级动态追踪）及工业质检（亚微米级缺陷检测）中重新定义了微观分析的性能维度。