1、基本定义

一种利用光学各向异性材料（如方解石、液晶或应力双折射器件）对入射光的偏振态和相位差进行调控，从而提取或增强样本结构信息（如应力分布、分子取向）的成像技术。

2、核心特点

利用偏振光与各向异性样本的相互作用，通过高精度相位延迟检测（亚纳米级）和偏振态解析，实现无标记、非接触式的内部结构（如应力、分子取向）可视化，兼具高对比度与多维信息提取能力。