一体式光纤端面干涉仪
1、基本定义
是一种集成化的光纤连接端面三维形貌测量设备，通过白光干涉技术（垂直分辨率0.1nm）与快速相位解调算法，实现光纤端面曲率半径（测量范围1-50mm）、顶点偏移（精度±0.5μm）及表面缺陷（如划痕深度）的全参数自动化检测，适用于高精度光纤连接器的生产质检与故障分析。
2、核心特点
是"原子级表面三维透视"，通过低相干干涉扫描（纵向分辨率0.05nm）与智能曲面拟合算法（曲率重复性±0.1%），实现光纤端面粗糙度（Ra＜1nm）、胶合气泡（检出率100%）等亚微米缺陷的秒级（＜3秒/次）全自动检测，为量子通信光纤接头、航天级光器件提供实验室级端面质量认证。
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ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)
ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。
产品信息产品型号 尺寸光纤直径视野 操作
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)
IF-12-01001
86(宽) x 127(长) x 93(高) mm220 µm – 1200 µm~1300 µm 加入询价单
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)
IF-12-01001
86(宽) x 127(长) x 93(高) mm220 µm – 1200 µm~1300 µm 加入询价单
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ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径125-720um)
ProView LD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为125至720µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView LD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView LD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。软件会自动指示端面的半径和角度。为了进一步简化检查过程，ProView LD可以设置为“通过/未通过”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了角度和半径检查外，ProView LD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。
产品信息产品型号 光纤直径视野分辨率 操作
ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径125-720um)
IF-02-01004
125-720 µm~800 µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单
ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径125-720um)
IF-02-01004
125-720 µm~800 µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单
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ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)
ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。
产品信息产品型号 光纤直径视野分辨率 操作
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)
IF-12-01000
220 µm – 1200 µm~1300µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)
IF-12-01000
220 µm – 1200 µm~1300µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单
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ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um)
ProView LD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为125至720µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView LD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView LD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。
产品信息产品型号 光纤直径视野分辨率 操作
ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um)
IF-02-01000
125 µm – 720 µm~800 µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单
ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um)
IF-02-01000
125 µm – 720 µm~800 µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单
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ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜
适用于 125 至 720 μm 的光纤包层直径 2D 和 3D 地形 PC 控制器 GUI 的条纹和检查模式 通过自动角度估计，检测速度非常快可选择使用通过/失败切割角度指示检查端面特性，如平面度、垂直度、锯齿和污染抓取并保存 2D 和 3D 图像以及切割数据
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