工业计量

  • 筱晓光子推出的X射线测量系统,是一种利用X射线穿透性对物体内部结构进行非接触式高精度成像与尺寸测量的技术,通过探测器接收衰减信号并重建二维/三维模型,广泛应用于工业CT检测、电子封装及材料分析。

    包括分辨率(μm级,如0.5μm)、能量范围(kV级,如20-225kV)、探测器动态范围(16bit以上)、几何放大倍数(如2000X)及重建精度(±0.1%voxel),这些参数直接决定其内部缺陷检测能力与尺寸测量可靠性。

  • 筱晓光子推出的OCT成像,是一种基于低相干光干涉原理的生物组织微米级三维成像技术,通过扫描样品反射光与参考光的干涉信号,实现无损伤、高分辨率的断层结构重建,广泛应用于眼科、皮肤科及血管内窥镜诊断。

    包括轴向分辨率(1-15μm)、横向分辨率(5-20μm)、扫描速度(A-scan速率50k-1MHz)、探测深度(1-3mm)及系统灵敏度(>100dB),这些参数共同决定其层析成像的清晰度、速度与组织穿透能力。

  • 筱晓光子推出的基于视频分析的坐标测量系统,是一种通过高分辨率摄像头捕捉目标图像,结合计算机视觉算法(如边缘检测、亚像素定位)实时解析物体二维/三维空间坐标的非接触式精密测量技术,适用于工业检测、自动化定位等场景。

    包括测量精度(±0.01%F.S.)、重复性(±1μm)、帧率(50-1000fps)、分辨率(如500万像素)及算法稳定性(亚像素定位±0.1pix),这些参数直接决定其动态测量精度与工业场景适应性。

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