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双折射成像系统

概述

1、基本定义

是一种基于偏振光与物质各向异性相互作用的精密光学分析平台,通过定量测量相位延迟(0.1-100nm)和快轴方位(精度0.1°),实现无标记条件下对晶体、生物组织及工业材料的微观结构与力学特性三维解析,其创新的"动态干涉补偿技术"和"全穆勒矩阵成像"功能,在液晶显示质检、生物纤维力学研究及地质矿物鉴定等领域树立了各向异性分析的新标准。

2、核心特点

包括相位延迟检测灵敏度(0.05nm)、快轴方位精度(0.05°)、应力分辨率(0.05MPa)及全穆勒矩阵成像速度(5fps),其创新的"数字微镜阵列动态补偿"技术与"深度学习各向异性解耦算法"将复杂样品的重构误差降低至±0.01nm,在超薄液晶面板缺陷检测(0.2μm定位)、细胞骨架力学动态监测(弹性模量±2%误差)及多晶材料相变研究(亚微米级畴结构追踪)中重新定义了各向异性分析的性能极限。

Moli

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