1、基本定义

是一种基于偏振光与样品双折射特性相互作用的高对比度显微系统，通过定量测量光程差（0.1-100nm）和晶体取向分析（精度0.1°），实现无标记状态下对各向异性材料（如液晶、生物纤维）的微观结构解析，其创新的"动态补偿器"与"全斯托克斯偏振分析"技术可同步获取样品的相位延迟、快轴方位及应力分布，成为材料科学、地质学及生物力学研究的专用分析工具。

2、核心特点

包括光程差检测范围（0.1-100nm）、取向分析精度（0.1°）、应力灵敏度（<0.1MPa）及成像速度（10fps@全偏振态），其创新的"电控补偿器阵列"与"深度学习解耦算法"将各向异性材料的相位重构误差控制在±0.05nm，在液晶器件缺陷检测（0.5μm微区定位）、生物纤维力学表征（杨氏模量±5%误差）及地质矿物晶格分析（多相混杂自动分类）中重新定义了无标记显微分析的性能标杆。