光束轮廓仪，焦平面
1、基本定义
专用于测量光学系统焦平面处光斑强度分布的精密仪器，通过分析聚焦光斑的形貌、尺寸及能量分布，验证光学系统的实际聚焦性能。
2、核心特点
精确定位焦点平面，量化分析极限光斑尺寸与能量分布，直接表征光学系统的终极聚焦能力。
Sherry
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超宽光谱红外光束质量分析仪
筱晓光子的红外光束质量分析仪，可以实现1.2-15μm范围内的光斑探测和参数分析，空间分析精度可达10μm量级，具有超感光范围、超大靶面、超高分辨率、多功能软件等特点。
产品信息产品型号 工作波段光敏面尺寸最大光功率 操作
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
BAB1G
1.2-15um10.8×8.7mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
BAB1W
1.2-15um10.8×8.7mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：7.6×6.1mm)
BAB2G
1.2-15um7.6×6.1mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：7.6×6.1m)
BAB2W
1.2-15um7.6×6.1mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
BAB3G
1.2-15um15.3×12.2mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
BAB3W
1.2-15um15.3×12.2mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
BAB1G
1.2-15um10.8×8.7mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
BAB1W
1.2-15um10.8×8.7mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：7.6×6.1mm)
BAB2G
1.2-15um7.6×6.1mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：7.6×6.1m)
BAB2W
1.2-15um7.6×6.1mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
BAB3G
1.2-15um15.3×12.2mm300mW(带衰减片） 加入询价单
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
BAB3W
1.2-15um15.3×12.2mm300mW(带衰减片） 加入询价单
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Duma BeamOn U3-VIS NIR光束位置分析仪 350–1600nm (光斑分析仪)
BeamOn U3是一种光束测量系统是一种光束测量系统，用于实时测量单束或多束的位置、功率和轮廓。该系统是用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它提供了激光光束参数的广泛的图形表示和分析能力，如:光束宽度、形状、位置、功率和强度轮廓。BeamOn是一个USB3.0设备级的软件驱动设备，驻留在用户提供的主机中。它是一个用户友好的系统，提供图形和数字信息，以直观地解释数据。BeamOn U3视频设备和软件可以集成到各种兼容的PC电脑平台或笔记本电脑上，在Windows操作系统下运行，满足实验室或工厂的各种自动激光分析需求。
产品信息产品型号 工作波长光敏面尺寸 操作
350-1350nm BeamOn U3-VIS NIR光束质量分析仪
U3- VIS NIR
350 - 1350nm11.34 x 7.13mm 加入询价单
350-1350nm BeamOn U3-VIS NIR光束质量分析仪
U3- VIS NIR
350 - 1350nm11.34 x 7.13mm 加入询价单
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