1、基本定义

一种通过测量光波偏振态（SOP）及其变化来分析材料光学特性或环境参数的精密仪器，其核心功能是量化表征斯托克斯参数（S₁, S₂, S₃）或穆勒矩阵元素，从而获取偏振特性和材料参数等。

2、核心特点

通过高精度偏振态解析（斯托克斯参数/穆勒矩阵测量）与材料光学各向异性表征（Δn/α/Δκ），实现0.01°级偏振角分辨率和10⁻⁶级双折射灵敏度，成为偏振光学定量分析的‘黄金标准’。