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剪切干涉

概述

1、基本定义

一种通过将待测波前与自身空间偏移（剪切）后的复制波前叠加，产生干涉条纹，从而检测波前相位畸变或光学元件面形误差的干涉测量技术。

2、核心特点

通过波前自剪切叠加产生干涉条纹，无需参考光路即可实现高抗扰、高灵敏的波前相位实时诊断。

Moli

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