ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。
产品特点高精度光学检测；宽范围兼容性；智能分析与自动化；自动对焦系统；兼容多连接器类型
产品货号H80020080
应用领域光纤通信质检 | 激光器产线检测 | 医疗光纤设备 | 航空航天光器件检测 | 科研实验室
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Sherry
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光纤直径 视野 分辨率
220 µm – 1200 µm ~1300µm 2560 x 1920 (4.92 MP)
技术参数
尺寸: | 86(宽) x 127(长) x 93(高) mm 86(宽) x 140(长) x 97(高) mm (包括，对焦旋钮和橡胶脚) |
重量: | 1.2 kg |
电源供应: | 通过USB端口 |
PC 接口: | 超高速USB (USB 3.0) Type-A, 2米数据线 |
环境: | 工作温度:10℃~ 40℃ 存储温度:-20℃~ 50℃ 湿度:5% ~ 95% RH(无冷凝) |
光纤直径: | 220 µm – 1200 µm |
视野: | ~ 1300 µm |
分辨率: | 2560 x 1920 (4.92 MP) |
传感器: | 互补金属氧化物半导体(单色) |
图像文件格式: | JPEG, PNG, TIFF, GIF |
系统采集范围和精度
高度, 峰谷波值: | 15 µm |
角度, 220 µm 光纤: | 高达 3.9° |
角度, 400 µm 光纤: | 高达 2. 1° |
角度, 720 µm 光纤: | 高达1.2° |
角度, 1200 µm 光纤: | 高达0.7° |
jue对精度: (1) | 0.03° 标准偏差(<400 µm, ROI = 90%) 0.02° 标准偏差(>400 µm, ROI = 90%) |
相对精度: (1) | 5% 高达 2° |
(1) 采用软件标定补偿。
系统要求
电脑: | 装有英特尔i5(或更高版本)的个人电脑 |
USB: (2) | 一个免费的USB 3.0接口(超高速) |
内存: | 4GB内存(推荐16GB内存) |
磁盘空间: | 100 MB (500 MB recommended) |
操作系统: | Windows 8/8. 1/10 64位(使用,net Framework 4.8或更高版本) |
显卡: | 支持3D图形(推荐专用GPU) |
显示分辨率: | 1920 x 1080 (推荐双监控系统) |
输入设备: | 键盘和三键滚轮鼠标(或同等设备) |
(2) 仅使用直接连接到 PC 主板的 USB 3.0 端口（即不带内部延长线的端口）。
型号及包装
产品 | 型号 # | 数量 |
NorthLab ProView™ XD – 用于光纤支架 | IF-12-01000 | |
标准包装 | ||
FITEL (S712) F/H 平台 | IF-90-01001 | 1 |
FITEL (S713) 和 Fujikura F/H 平台 | IF-90-01002 | 1 |
垫片（100、400、600、800、1000 um） | IF-90-01003 | 1 |
USB 3.0 电缆 | N/A | 1 |
用户手册和 PC 软件 | N/A | 1 |
配件和备件 | ||
通用V型槽夹具 | IF-90-01004 | |
SMA 连接器支架 | IF-90-01010 | |
FC/PC 连接器支架 | IF-90-01011 | |
ST/PC 连接器支架 | IF-90-01012 | |
LD80 连接器支架 | IF-90-01013 | |
FITEL/FUJIKURA纤维支架平台
显微镜视图 ,高度图视图 ,干涉仪视图 以及三维模型视图
无
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