技术规格

注：1. 该规格适用于无 FC 连接器的模块；

2. 集成硅雪崩光电二极管（Si-APD）的有效区域大于 100 µm。FC 版本专为纤芯直径 < 105 µm 的光纤优化，预对准的梯度折射率（GRIN）透镜会将光线聚焦到探测器中心直径 < 70 µm 的光斑上，详见图 2。建议与该模块搭配使用的光纤数值孔径（NA）≤0.29；

3. 定时分辨率取决于计数率和波长；

4. 定义的时间间隔为 0-500 ns。

绝对最大额定值

光纤连接选项

COUNT-XX-FC 型号配备 FC 型光纤接收器，该接收器与光学探测器表面预先对准。该组件中使用的梯度折射率（GRIN）透镜经过优化处理，并针对 440-1000 nm 波长范围进行了增透膜（AR）镀膜。

散热要求

为避免模块损坏，必须提供充足的散热条件，可将模块放置或安装在合适的散热片上，例如光学平台。

光纤屏蔽

为防止杂散光照射到探测器上并影响计数率，连接到 FC 连接器的所有光纤组件必须完全不透光。

选通功能

COUNT模块标配选通输入功能。该功能可用于观测仅在极短时间窗口内出现的信号，或应用于信号极弱且背景噪声较高的场景。当选通输入施加 TTL 低电平时，模块输出将被禁用；施加 TTL 高电平时，模块将启用并允许进行光子探测。若选通输入未连接，模块默认处于启用状态。

 注意：连接或断开选通输入前，务必关闭模块电源。

保修政策

产品自发货之日起享有标准 12 个月保修。若模块外壳被拆开，保修将立即失效；若模块输入电压超过 12.5 V，保修同样无效。

静电放电（ESD）防护说明

仅可在防静电工作台上操作模块。

模块单独测试数据

每台模块均随附测试数据，其中包含模块实际的暗计数、死时间、在 405 nm、520 nm、670 nm 和 810 nm 波长下的光子探测效率、定时抖动以及后脉冲概率等参数。

安全注意事项

COUNT系列模块内置高压电源。若拆开模块外壳，用户可能会面临触电风险。模块所有内部设置均已预先设定，无需用户进行调整。若模块出现故障迹象或遭受机械损坏，请勿继续使用，因为这可能导致高压电源发生电短路。拆开模块外壳可能会损坏敏感元件，并使用户面临触电风险。如需维修，请联系原厂。

（PDE）特性

典型光子探测效率（P_d）与波长的关系

探测器表面光斑直径与光子探测效率（P_d）相对强度的关系

（以 670 nm 波长下的最大值为基准）

饱和特性

在入射光强度较高的情况下，死时间会限制可测量的计数率。当入射光子数量增加而信号不再发生显著变化时的计数率，被称为饱和水平。需采取预防措施，避免长时间暴露在过强的光照下，以防损坏 COUNT 模块。

校正系数与非线性

每台 COUNT模块在探测到光子后，均存在约 43 ns 的固有死时间。在死时间内，模块处于“盲视”状态，无法探测到更多光子。因此，测量得到的计数率会低于实际的入射光子率。实际光子率可通过测量计数率按以下公式计算：

其中，R_photon 为实际入射光子率，R_measured 为测量计数率，T_D 为模块的死时间。

死时间效应也可通过入射光子率与测量计数率的比值偏离的程度来体现。

校正系数可用于校正非线性问题，尤其在强光环境下效果显著，其计算公式如下：

以下两张图展示了死时间对测量计数率的影响及其校正系数。

死时间为 43 ns 时，测量计数率与实际光子率的关系      死时间为 43 ns 时，校正系数与光子率的关系

光子数量与光功率的关系

单光子探测适用于极低光强（LLL）场景。下图有助于理解实际单光子计数方法所适用的光功率范围。

 不同波长下光子数量与光功率的关系

接口信息

电源供应：LEMO 连接器，型号为 FGG.OB.302.CLAD42（可根据需求选购 COUNT专用电源）

选通输入：SMA 连接器

TTL 输出：LEMO 连接器，兼容 LEMO/BNC 转接器（型号 ABF.00.250.CTA），可根据需求选购 LEMO 转 BNC 转接器

光学输入（FC 连接器版本）：兼容标准 FC/PC 连接器，适用于纤芯直径最大为 105 µm 的光纤

光学输入（FC 连接器版本）：兼容标准 FC/PC 连接器，适用于纤芯直径最大为 105 µm 的光纤

光学输入（FC 连接器版本）：兼容标准 FC/PC 连接器，适用于纤芯直径最大为 105 µm 的光纤

NIM 输出：SMA 连接器

产品型号说明

FC：FC 连接器（可选）

C：（型号分类标识，具体功能以产品规格为准）

XX：暗计数率（10 = 10 计数 / 秒、20 = 20 计数 / 秒、50 = 50 计数 / 秒、100 = 100 计数 / 秒、250 = 250 计数 / 秒）

无