826–854 nm OCT 光谱仪是一款面向SD-OCT（光谱域光学相干断层成像）系统的高速、高分辨率光谱检测模块。产品采用高效率透射光栅和2048像素高速线阵探测器，可实现 0.015 nm 光谱分辨率、12.9 mm空气中轴向测量深度，全像素采集速度最高 61 kHz，1024像素 Binning 模式可达 MAX.101 kHz。产品具有优秀的 Roll-off 性能和紧凑型 OEM 设计，适用于工业OCT、医疗OCT、长距离OCT、3D成像及在线检测系统。
产品特点826–854 nm OCT专用波段；0.015 nm高光谱分辨率；高速采集；优秀的Roll-off性能
型号MP-OCT-826-854
应用领域工业OCT检测 | 医疗OCT成像 | 3D / Volume OCT | 透明及半透明材料内部结构、厚度检测
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Daisy
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波长范围 光谱分辨率
826–854 nm 0.015 nm
技术规格表
参数 | 指标 |
工作波长 | 826–854 nm |
中心波长 | 约 840 nm |
光谱带宽 | 28 nm |
光谱分辨率 | 0.015 nm（全波段平均） |
MAX.轴向测量深度 | 12.9 mm（空气中） |
OCT轴向分辨率 | 约11 μm（空气中） |
数值孔径 NA | 0.13 |
光学输入 | FC/UPC |
像素数量 | 2048 × 1 pixels |
像素尺寸 | 7 μm × 200 μm |
2048像素采集速度 | 61 kHz |
1024 Pixel Binning | 101 kHz |
数据接口 | MIPI CSI-2 |
ADC | 12-bit RAW |
工作温度 | 10～45°C，非冷凝 |
储存温度 | −10～50°C |
波长温漂 | <0.002 nm/°C |
产品尺寸 | 166 × 138 × 50 mm |
产品重量 | 约1.3 kg |
OCT Roll-off 性能曲线
无
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