190 - 435nm LIBS光谱仪是一款面向激光诱导击穿光谱（LIBS）及紫外高分辨率光谱检测应用的紧凑型光谱仪。产品覆盖 190 - 435 nm 波长范围，可实现典型 0.15 - 0.2 nm 的光谱分辨率，适合对紫外区域中相邻发射谱线进行识别和分析。光谱仪采用高效率透射光栅及紧凑型 Mirror-Grating-Mirror 光学架构，在较小体积下兼顾高分辨率、高光通量和较好的环境稳定性。产品支持 SMA 光纤输入以及 SPI / USB 2.0 数据接口，方便集成至 LIBS 元素分析仪、便携式光谱分析系统及 OEM 检测设备。
产品特点190 - 435 nm 紫外波段覆盖；高光谱分辨率；紧凑型设计；高波长稳定性
型号MP-LIBS-190-435
应用领域金属元素成分分析 | 矿石及矿物成分检测 | 土壤元素分析 | 科研光谱分析
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Daisy
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邮箱：moli@microphotons.com
波长范围 光谱分辨率
190 - 435 nm 0.15 - 0.2 nm
技术规格表
参数 | 指标 |
波长范围 | 190 - 435 nm |
波长准确度 | < 0.24 nm |
光谱分辨率 | 0.15 - 0.2 nm |
数值孔径 NA | 0.11 |
狭缝高度 | 750 µm |
杂散光 | <0.03% |
光学输入类型 | SMA 光纤输入 |
探测器类型 | CMOS / BT-CCD |
像素数 | 2048 / 4096 |
电气接口 | SPI / USB 2.0 |
温度波长漂移 | <0.02 nm/°C |
工作温度 | 0 - 50 °C |
储存温度 | -40 - 65 °C |
外形尺寸 | 61 × 65 × 19 mm |
衍射效率曲线图
无
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