1100-2100nm XNIR光谱仪是一款面向扩展近红外分析与工业OEM集成应用设计的高通量光谱仪，采用高效率透射光栅和两级TE制冷扩展型InGaAs线阵探测器，覆盖 1100-2100 nm 波段。产品最大数值孔径达 NA 0.22，典型光谱分辨率可配置为 5.6-12.8 nm，兼具高灵敏度、低杂散光、高动态范围和良好的温度稳定性。支持SMA光纤输入及SPI/USB 2.0通信接口，适合食品农业、制药、过程分析、生命科学、材料分析及工业在线检测等应用。
产品特点1100-2100 nm扩展近红外覆盖；高通量设计；两级TE制冷扩展型InGaAs探测器；稳定可靠的工业级性能
型号MP-XNIR-1100-2100
应用领域食品与农业检测 | 制药及过程分析 | 材料与化工分析 | 医疗与生命科学
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光谱范围 光谱分辨率
1100-2100 nm 5.6 / 8.7 / 12.8 nm
技术规格表
参数 | 指标 |
光谱范围 | 1100-2100 nm |
波长准确度 | <0.5 nm |
光谱分辨率 | 5.6 / 8.7 / 12.8 nm |
入口狭缝 | 25 / 70 / 150 μm |
狭缝高度 | 500 μm |
数值孔径NA | 0.22 |
杂散光 | <0.03% |
探测器像素 | 256 × 1 / 512 × 1 |
典型SNR | 4500:1 |
典型动态范围 | 5000:1 |
光学输入 | SMA光纤 |
通信接口 | SPI / USB 2.0 |
ADC | 16 bit |
曝光时间 | 1.2 μs-859 s |
温度波长漂移 | <0.02 nm/°C |
工作温度 | 0-50°C |
储存温度 | -40-85°C |
尺寸 | 131 × 149 × 54 mm |
衍射效率曲线图
无
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