高精度光矢量分析仪

光矢量分析仪是一款面向光子芯片、光通信器件及光纤链路测试的高精度光学分析设备。仪器基于光矢量分析技术，通过获取待测器件的琼斯矩阵，实现对器件幅度、相位、群时延及偏振特性的综合表征。产品支持 1260～1360 nm及1525～1625 nm 波段，最高波长分辨率可达 0.4 pm，动态范围最高 85 dB，可同步测量插入损耗（IL）、群时延（GD）、偏振相关损耗（PDL）、偏振模色散（PMD）等关键参数，适用于高Q值器件、DWDM器件及复杂光子系统的研发、生产与性能评估。