CMOS光谱相机 550-600nm (马赛克捕捉I型 集成FP腔像素滤波器 4×4 MOSAIC 半波长6nm)

我们自主研发的光谱相机的核心部件是业务部门开发的图像传感器。核心部件是集成FP腔像素滤波器CMOS图像传感器，该传感器体积小，集成度高。传感器涂层形式包括马赛克布局和线扫描布局。光谱范围涵盖可见光近红外范围，共有四种型号。相机原始图像分辨率为2352×1768。

极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像)

三维无损成像技术在材料科学和医学等许多应用领域都非常重要。我们开发了一种成像技术，利用极紫外和软x射线辐射来获得纳米分辨率的横截面图像。 例如，我们能够无损地研究硅片或生物样品中的近表面结构。 在下边的图片中，你可以看到几个埋在硅下的金层。它们的位置可以用我们的计量仪测量，精度低于1nm。这些层位于表面下的110 nm和128 nm处。

CMOS光谱相机 700-950nm (马赛克捕捉II型 集成FP腔像素滤波器 4×4 MOSAIC 半波长10nm)

我们自主研发的光谱相机的核心部件是业务部门开发的图像传感器。核心部件是集成FP腔像素滤波器CMOS图像传感器，该传感器体积小，集成度高。传感器涂层形式包括马赛克布局和线扫描布局。光谱范围涵盖可见光近红外范围，共有四种型号。相机原始图像分辨率为2352×1768。

CMOS光谱相机 550-600nm (线扫描I型 集成FP腔像素滤波器 半波长6nm)

我们自主研发的光谱相机的核心部件是业务部门开发的图像传感器。核心部件是集成FP腔像素滤波器CMOS图像传感器，该传感器体积小，集成度高。传感器涂层形式包括马赛克布局和线扫描布局。光谱范围涵盖可见光近红外范围，共有四种型号。相机原始图像分辨率为2352×1768。

热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统

产生磁场±6.5T的热（Thermal）辅助磁记录介质（HAMR或TAMR）非接触评估系统。

CMOS光谱相机 550-600nm (线扫描II型 集成FP腔像素滤波器 半波长4nm)

我们自主研发的光谱相机的核心部件是业务部门开发的图像传感器。核心部件是集成FP腔像素滤波器CMOS图像传感器，该传感器体积小，集成度高。传感器涂层形式包括马赛克布局和线扫描布局。光谱范围涵盖可见光近红外范围，共有四种型号。相机原始图像分辨率为2352×1768。

SWIR 短波红外波前传感器 SWIR320 (传感器分辨率 320x256)

短波红外 快速、出色的灵敏度和低噪音 SWIR 光谱范围的理想解决方案 具有出色的灵敏度、帧速率和准确性。它是计量和变形镜控制的理想选择。

SWIR 短波红外波前传感器 SWIR640 (传感器分辨率 640x512)

短波红外 快速、出色的灵敏度和低噪音 SWIR 光谱范围的理想解决方案 具有出色的灵敏度、帧速率和准确性。它是计量和变形镜控制的理想选择。

带尾纤的Fabry-Perot标准具 C波段 A型 FSR50GHz

筱晓光子 的 Inline Fabry-Perot Air-Gap Etalon标准具基于其专有的自由空间光学技术，可提供优秀的光学性能和出色的环境稳定性。通过制造过程中的现场监控和调整，FSR（自由光谱范围）可以非常准确地达到所需规格（例如 50 或 100GHz）。此外，峰值波长可以非常精确地与客户需要的波长对齐。 筱晓光子提供多种 F-P 标准器选择，涵盖 C-、L-、C+L 或 O-band 的不同波长范围，FSR 范围从 200GHz、100GHz、50GHz、25GHz、12.5GHz 到 6.25GHz。

垂直磁各向异性评价系统 BH-R810

在固定磁场方向下具有旋转样品架的角度依赖性分析系统。

Mark标记型热稳定标准具 1525-1565nm

筱晓光子的Mark-ID光电热稳定滤波器基于先进的ETALON技术， 同时运用不一样的光学及机械设计，同时采用先进的封装技术,保证该款滤波器的波长在极端环境条件下的稳定性,包括温度和湿度。我们拥有不一样的**技术，用以保证该滤波器在所有环境下波长的目标精度在ITU + / -1.25GHz以内可供选择。这款对准ITU过滤器可用于波分复用(WDM)系统信道监测和波长锁定。我们还有特殊的技术可供顾客选择特定波长对应精度。

用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25

用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。