中宽带近红外超光谱(Hyperspectral)相机 450-1700nm (热电制冷 InGaAs传感器 GE或CL接口)

超光谱(Hyperspectral)相机 通过高光谱相机同时可以获取XY坐标上的空间与波轴信息(光谱信息)。 AHS-003VIR使用一条线上的640个像素，从450nm至1700nm波张范围内可以获取512张的光谱信息。

中宽带近红外超光谱(Hyperspectral)相机 1300-2150nm (两级电子冷却 InGaAs传感器 GE接口)

高光谱（Hyperspectral）相机在高光谱相机中可以同时获取XY坐标的二维空间信息和波长轴数据（光谱信息）的相机。AHS-U20MIR在192个像素的一条线上，把1300nm至2150nm的波长以9.6nm的间隔光谱分离，获得96个带域的光谱信息。

中近红外InGaAs线传感器SWIR相机 1100-1900nm (CameraLink SDR接口)

中近红外（1100~1900nm）InGaAs线传感器 SWIR相机

近红外光谱成像相机 标准测量系统 SPECT-CAM-100 950-1700nm

一种光谱成像相机，内置近红外光谱成像单元[SPECT-100 nir2]，扫描机构中装有InGaAs传感器。 附带专用软件。 它可以测量从 950 到 1700 nm 的宽范围近红外区域。 它不仅配备了光谱成像图像采集，还配备了伪彩色合成功能。 它还可用于研究和生产以及质量控制过程中的非接触式和非侵入式分析。

InGaAs 线传感器 SWIR 近红外相机 950-1700nm (QVGA解析度 CameraLink SDR接口)

950~1700nm, QVGA解析度 InGaAs 线传感器 SWIR 相机

InGaAs 线传感器SWIR 近红外相机950-1700nm (1k 解析度 CameraLink SDR接口)

950~1700nm, 1k 解析度 InGaAs 线传感器 SWIR 相机

InGaAs传感器 SWIR近红外相机 950-1700nm (QVGA解析度 接口CameraLink SDR)

950~1700nm, QVGA解析度 InGaAs传感器 SWIR相机

InGaAs传感器 SWIR近红外相机950-1700nm (配备VGA解析度 接口CameraLink SDR)

950~1700nm, 配备VGA解析度 InGaAs传感器 SWIR相机

覆盖400-1700nm宽带的 VGA VIS-SWIR高灵敏度近红外相机 (IMX991传感器 GE接口)

采用Sony的IMX990传感器的高灵敏度VIS-SWIR相机

覆盖400-1700nm宽带的SXGA VIS-SWIR高灵敏度近红外相机 (IMX990传感器 CL接口)

采用Sony的IMX990传感器的高灵敏度VIS-SWIR相机

FS70 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 固定光通比50/50 C-mount)

日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。 FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount)

日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。 FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。