190–1100 nm UV-NIR光谱仪是一款面向宽带光谱检测和OEM系统集成的紧凑型光谱仪，可在单台设备中覆盖 190–1100 nm 紫外、可见至近红外波段。产品采用 MGM（Mirror-Grating-Mirror）光学结构、高反射率准直/聚焦反射镜及高效率透射光栅，兼顾宽光谱覆盖、较高光通量和良好的环境稳定性。
产品特点超宽光谱覆盖；高光通量设计；高稳定性与低杂散光；紧凑易集成
型号MP-UV-NIR-190-1100
应用领域UV-VIS-NIR吸收、透射与反射光谱分析 | 光源与光学器件测试 | 荧光及发射光谱检测 | OEM与工业在线检测
产品单价联系客服询价
到货日期请咨询客服获得货期
产品库存请咨询客服
Daisy
电话：18602170419
邮箱：moli@microphotons.com
光谱范围 光谱分辨率
190–1100 nm 1.8 nm
技术规格表
参数 | 指标 |
光谱范围 | 190–1100 nm |
波长准确度 | ≤0.5 nm |
典型分辨率 | 1.8 nm |
数值孔径 NA | 0.15 |
单色杂散光 | <0.03% |
标准狭缝宽度 | 12.5 / 35 / 50 / 70 / 125 μm |
狭缝高度 | 250 μm；750 μm |
光学输入 | SMA905 / 自由空间耦合 |
光学结构 | Mirror-Grating-Mirror（MGM） |
分光元件 | UV-NIR高效率透射光栅 |
探测器 | CMOS / BT-CCD |
电气接口 | SPI / USB 2.0 |
温度波长漂移 | <0.02 nm/°C |
工作温度 | 0～+50°C，非冷凝 |
存储温度 | -40～+65°C |
外形尺寸 | 54 × 48 × 16 mm |
重量 | 约70 g |
衍射效率曲线图
无
产品询价
输入您的联系信息，无需登录/注册即可快速询价，请保持电话畅通。
注意：由此处提交的询价单，不会出现在“个人中心”-“我的询价单”列表中。
新品推荐
精品现货
非标定制
质量保证
产品研发
顺丰速运
