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    • 超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)

    超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。

    产品特点超宽感光范围、超大靶面、超高分辨率

    产品型号BAB1G

    应用领域红外成像红外激光M2测试红外光学系统表征

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    主要参数
  • 核心参数

  • 工作波段 光敏面尺寸 最大光功率

    1.2-15um 10.8×8.7mm 300mW(带衰减片）

  • 尺寸图
    • 详细参数

    光学特性

    单位

    典型值

    光敏面


    复合薄膜VOx微测热辐射焦平面

    波长范围

    μm

    1.2μm-15μm

    分辨率


    640×512

    640×512

    1280×1024

    光敏面尺寸

    mm

    10.8×8.7mm

    7.6×6.1mm

    15.3×12.2mm

    像素尺寸

    μm

    17μm

    12μm

    12μm

    最小检测光强

    μW/cm2

    100μW/cm2

    饱和光强

    mW/cm2

    200mW/cm2

    损伤阈值

    mW/cm2

    250mW/cm2

    最小可检测光斑尺寸


    10倍像素

    采样分辨率

    bit

    14bit

    信噪比


    ≥1000:1

    可测量激光模式


    连续（CW）或 重复频率≥1kHz

    输出帧频

    FPS

    25FPS

    通信接口


    TYPE-C/USB3.0

    最大激光功率

    mW

    300mW（带衰减片）/2mW（无衰减片）

    测量软件


    DoBEAM2024

    特色算法


    红外干涉条纹去除算法，自适应背景噪声矫正算法

    扩展组件


    M2测量组件，包含导轨与透镜系统，符合ISO 11146规范


    物理参数

    单位

    值

    工作温度

    ℃

    10~40℃

    存储温度

    ℃

    0~50℃

    供电接口


    TYPE-C/通信供电共用，无需单独供电

    支杆接口


    M6×4

    光学接口


    SM1×1

    外观尺寸

    mm

    64.75mm×64.75mm×59.40mm

    光敏面深度

    mm

    ~15mm

    探测器净重

    kg

    0.3kg

    特性曲线

    1.1.png


    操作说明

    1.2.png 

    1. USB线连接探测器并插上USB钥匙，系统识别探测器需要10s

    (此款探测器功耗较大，有的笔记本USB带不动)

    2. 双击DoBEAM2024程序图标（如权限不够右键以管理员运行）

    3. 点击软件顶部“探测器”按钮，再点击“初始化”按钮，等待8s打开画面

    4. 软件启动后默认是自动调整曝光

    提示：探测器没加衰减片时不能超过2mW照在探测器感光面上；

    现在可以测试光斑（此型号密码“0000”）

    5. 探测器插电后需要60s才能稳定测量，期间背景发生干扰变化可通过以下解决：

    方法一：点击探测器下的手动刷新按钮即可

    方法二：点击顶部“分析”按钮，选择“采集背景”再点击“使用背景”背景干扰即可消除（干扰小此功能无需使用）

    6. 光斑数据图像存储及回放：点击“探测器”选择“存储设置”选择“存储路径”：选择“存储时间”或“存储帧数”再选择格式，确定完成，再点击“开始存储”按钮，软件开始录像存储数据。回放：点击顶部“回放”按钮，点击“打开”按钮，文件选择All Files，找到已保存的文件打开，即可回放查看。

    7. 保存PDF数据表格：点击顶部“分析”按钮，再点击“保存结果”按钮，保存即可生成一份数据报告。


    订购信息

    型号货号对照表

    型号

    货号

    规格

    BAB1G

    E80060100

    超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)，
         Max. 光功率:300mW(带衰减片）,光敏面尺寸：10.8×8.7mm，包含M2导轨与透镜系统，工作波段：1.2-15um

    BAB1W

    E80060101

    超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)，
         Max. 光功率:300mW(带衰减片）,光敏面尺寸：10.8×8.7mm，工作波段：1.2-15um

    BAB2G

    E80060102

    超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：7.6×6.1mm)，
         Max. 光功率:300mW(带衰减片）,光敏面尺寸：7.6×6.1mm，包含M2导轨与透镜系统，工作波段：1.2-15um

    BAB2W

    E80060103

    超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：7.6×6.1m)，
         Max. 光功率:300mW(带衰减片）,光敏面尺寸：7.6×6.1mm，工作波段：1.2-15um

    BAB3G

    E80060104

    超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)，
         Max. 光功率:300mW(带衰减片）,光敏面尺寸：15.3×12.2mm，包含M2导轨与透镜系统，工作波段：1.2-15um

    BAB3W

    E80060105

    超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)，
         Max. 光功率:300mW(带衰减片）,光敏面尺寸：15.3×12.2mm，工作波段：1.2-15um

     


    可选配置表

    光束质量分析仪


    产品名称

    光谱

    光敏面尺寸

    组件

    预留可选配置

    BA："光束质量分析仪"

    B：超宽光谱

    1：10.8×8.7mm

    G:带M2导轨与透镜系统




    2：7.6×6.1mm

    W:无




    3：15.3×12.2mm




    产品资料
    超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm).pdf

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