ELWI-GER 3000自准直仪

概述

ELWI-GER 3000自准直仪

总览 易于调整、测量和记录,自准直仪利用光学对准和ELWI-GER3000测量系统,实现直线度和“平面度”的二维精确快速测量。该柔性系统适用于技术面、线性导轨的对准和控制,以及大型部件和轨道系统的曲率测量。

Sherry

电话:16628709332

邮箱:moli@microphotons.com

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产品信息 分辨率精度 操作

ELWI-GER 3000自准直仪 < 0.1μm / m< 0.5 μm / m 加入询价单

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