近红外物镜

近红外物镜

概述

近红外物镜

在1000-2000nm附近具有高透射率的物镜。用于半导体器件故障分析，以检测漏电流发出的极微弱发射。当红外光从芯片背面穿过硅时，可以很好地观察到高度集成和多层布线的半导体。

注：硅校正镜片也可提供。

Moli

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