在1000-2000nm附近具有高透射率的物镜。用于半导体器件故障分析，以检测漏电流发出的极微弱发射。当红外光从芯片背面穿过硅时，可以很好地观察到高度集成和多层布线的半导体。 注：硅校正镜片也可提供。
产品特点宽波段高透射率（超过70%）；多个倍率可以选择
型号MP-20X-2000HR
应用领域半导体分析 | 生物医学
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Sherry
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邮箱：moli@microphotons.com
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参数：
Model | MP Plan 10X 2000HRS | MP 20X 2000HR | MP 50X 2000HR |
放大倍率 | 10X | 20X | 50X |
工作距离 | 20mm | 10mm | 10mm |
焦距(f) | 20mm | 10mm | 4mm |
N.A | 0.33 | 0.6 | 0.7 |
明晰度 | 2.9um | 1.6um | 1.4um |
聚焦深度 (±D.F) | 7.1um | 2.1um | 1.5um |
透射率超过 70% | 1000 – 2100nm | 1000 – 2000nm | 1000 – 2000nm |
重量 | 490g | 610g | 560g |
注：分辨率和焦深是使用波长参数（λ=1.55um）计算的。
R=0.61 x 1.55/N.A焦深±D（um）=λ/[2（N.A）²]
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