TAMTEC PEAK ANALYZER 是一款独立运行、硬件无关型（Hardware-Agnostic）光谱分析软件套件，旨在将高精度峰值检测以及半高全宽（FWHM, Full Width at Half Maximum）分析功能无缝集成到现有光谱测量流程中。 作为一种通用型数字化扩展工具，该软件能够将来自不同厂商的标准 USB 光谱仪升级为具备专业分析能力的高性能光谱分析平台。 通过直接从现有设备中提取科研级光谱分析能力，TAMTEC PEAK ANALYZER 可有效优化研发（R&D）及工业质量控制（QA）的成本投入，同时无需购买新的光学硬件设备，即可显著提升现有测量系统的分析性。
产品特点硬件无关；兼容各类USB光谱仪；高精度峰值检测；半高全宽自动分析；无缝集成现有测量流程
型号MP-LSU-VR-C01S04
应用领域激光光谱分析 | 荧光光谱分析 | 半导体激光器表征
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Daisy
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发光方式 电流调节范围
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实时光谱分析与曲线拟合控制界面
01 / 核心数学算法架构
Basic：线性算法
• 通过离散点插值计算表观半高全宽
• 针对高通量、快速、稳定的日常质量检测进行了优化
Standard：非线性拟合
• 采用高斯/洛伦兹非线性最小二乘拟合
• 计算理论峰值波长及峰面积，提高分析精度
Pro：伪沃伊特拟合
• 有效解析重叠谱峰
• 可独立提取斯塔克展宽与多普勒展宽成分
• 适用于先进材料研究及高精度光谱分析
特点
利用自动化算法分析，最大限度减少人为误差
传统曲线拟合依赖人工设定初始参数，容易受到操作者经验影响，并可能因算法陷入局部最优解而产生分析误差。TAMTEC 独有的预分析估算算法可直接从原始波形中自动提取并计算最优初始值，无需人工调整参数。通过自动化参数估算，实现不同操作者之间一致、稳定、可重复的光谱分析结果。
02 / 数据管理与分析可追溯性
统一数据导出架构
为确保数据的绝对透明度和安全性，TAMTEC PEAK ANALYZER 消除了数据解耦带来的风险。该软件输出一个统一的 CSV 文件，其中包含完整的测试数学档案：原始光谱波形数组、计算出的 FWHM 值，以及生成的理论拟合曲线坐标——所有这些数据并列排布在同一个文件中。
非专有格式审计追踪信息
基本的采集条件——包括通用时间戳、硬件专属光谱仪序列号、曝光配置、平均次数以及所选拟合参数——均以明文形式永久嵌入文件头的首部。为支持严格的质量控制工作流程，我们提供了一种标准化、内聚的数据结构，专为二次验证和数据完整性而优化。
附带元数据的 CSV 数据文件，确保分析过程可追溯
03 / 规格参数与功能矩阵
基础模式 | 标准模式 | 高级版 | |
线性插值算法（快速 FWHM 筛选）√ | √ | √ | √ |
多厂商 SDK 集成与原始数据导入 | √ | √ | √ |
高斯与洛伦兹拟合模型 / 峰面积计算 | — | √ | √ |
伪沃伊特卷积拟合模型 | — | — | √ |
独立斯塔克/多普勒分量提取 | — | — | √ |
原始波形与拟合波形同步统一 CSV 导出 | √ | √ | √ |
自动生成纯文本元数据审计追踪文件头 | √ | √ | √ |
即插即用的直接硬件控制
通过 USB 直接连接并控制主流光谱仪。
无需依赖厂商专有软件，即可实现实时数据采集、处理与分析的一体化工作流程
系统要求
• 操作系统： Windows 11（64 位）
• 处理器： Intel Core i3 或同等级 CPU
• 内存： 8 GB RAM 或以上
• 硬盘空间： 至少 500 MB 可用空间
无
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