ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)

ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。