ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径125-720um)

ProView LD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为125至720µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView LD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView LD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。软件会自动指示端面的半径和角度。为了进一步简化检查过程，ProView LD可以设置为“通过/未通过”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了角度和半径检查外，ProView LD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。