首页 光纤型元器件 测试和测量设备 一体式光纤端面干涉仪 ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um)

ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um)

概述
ProView LD是一款高度先进的干涉仪,用于精确测量和检查直径为125至720µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的,在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView LD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下,干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度,ProView LD包括高度先进的全自动功能,用于端面表面的2D和3D地形分析。

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ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um)

ProView LD是一款高度先进的干涉仪,用于精确测量和检查直径为125至720µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的,在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView LD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下,干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度,ProView LD包括高度先进的全自动功能,用于端面表面的2D和3D地形分析。

产品信息 光纤直径视野分辨率 操作

ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径125-720um) 125 µm – 720 µm~800 µm2560 x 1920 (4.92 MP) 加入询价单

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