用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。
产品特点高精度克尔效应测量；非接触式检测；宽晶圆兼容性（8/12英寸）；高磁场强度（±2kOe）；双波长激光光源
产品货号E80100172
应用领域半导体制造 | 磁存储研究 | 工业检测 | 科研实验 | 材料分析
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Moli
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光源 测量克尔效应
二极管激光器（408nm 或 650nm） 极向克尔效应
光源 | 二极管激光器（408nm 或 650nm） |
测量克尔效应 | 极向克尔效应 |
激光光斑直径 | <φ1mm |
磁场 | 平面外方向：Max. >±20kOe (±2T) |
晶圆尺寸 | 8 英寸或 12 英寸晶圆 |
测量示例
无
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