软磁层的非接触式评估系统，例如具有映射和倾斜角测量功能的硬盘介质中的 SUL。
产品特点双波长激光光源；纵向克尔效应测量；2mm激光光斑；±2.5kOe平面外磁场；兼容2.5/3.5英寸磁盘
产品货号E80100165
应用领域硬盘介质检测 | 磁存储研究 | 工业质量监控 | 科研实验 | 材料分析
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Moli
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光源 测量克尔效应
二极管激光器780nm 纵向克尔效应
光源 | 二极管激光器（408nm 和 780nm） |
测量克尔效应 | 纵向克尔效应 |
激光光斑直径 | φ2mm |
磁场 | 平面外方向：Max. ±2.5kOe (±0.25T) |
磁盘大小 | 2.5 英寸或 3.5 英寸磁盘 |
测量示例
无
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