• 250-2000 nm反射式光束采样器

    我们的高精度、高功率光束轮廓仪及光束定位系统系列全新推出了一款反射式光束采样器。这款精密的光学光束采样器通过两个正交排列的平面对光束进行两次反射,每个平面均反射约4%的入射光束。

    产品特点宽光谱覆盖;低损耗采;抑制杂散光;高精度与高损伤阈值

    型号MP-SAM3

    应用领域激光功率与光斑形态监测 | 在线光束分析科研与光学系统校准

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    Daisy

    电话:18602170419

    邮箱:moli@microphotons.com

    主要参数
  • 核心参数
  • 光谱范围 采样缩减系数 通光孔径

    250-2000 nm 0.0016 8×8 mm

  • 尺寸图
  • 详细参数

    采样光束在保持入射光束形状和偏振特性的同时,可降低光束总功率:该通用附件可与以下测量头配合使用:

    高分辨率光束

    束流分析仪

    spoT 在 CCD 上


    适用于平行光束和聚焦光束

     

    图片3.png图片4.png 

    光束开启/焦点开启CCD+SAM3                              针对HR+ SAM3的光束

    图片5.png图片6.png 

    光束分析仪+SAM3

    特殊激光光纤结构

    柔韧且坚固,适用于高功率和高亮度激光光束

    精密连接器 D80

    灵活且可定制的光缆解决方案,专为满足您的独特需求而设计

    可定制的光缆设计和配置


    规格参数

    参数项

    MP-SAM3

    MP-SAM3-HP

    光谱范围

    250-2000 nm

    250-2000 nm

    采样缩减系数

    平均值 0.0016

    1.1 × 10⁻⁵

    尺寸

    直径 40 mm × 长度 31 mm

    直径 40 mm × 长度 31 mm

    重量

    40 克

    40 克

    通光孔径

    8×8 mm

    8×8 mm

    从输入端到采样表面的最小光程

    25 mm(取决于具体型号)

    25 mm(取决于具体型号)

    推荐气压

    6-8 巴

    推荐空气过滤

    可去除小至 1 um的颗粒,包括水和油含量

    推荐最大 N.A

    0.2

     

     订购信息:

    MP-SAM3 - A:适用于BeamOn/BeamOn HR/SpotOn CCD的衰减器及安装适配器

    MP-SAM3-HP-A:适用于高功率光束的BeamOn/BeamOn HR/SpotOn CCD的衰减器及安装适配器

    MP-SAM3-B:用于束流分析仪的衰减器及安装适配器

    MP-SAM3-HP-B:高功率光束分析仪用衰减器及安装适配器

    MP-SAM3:µBeam 衰减器

    MP-SAM3-HP:高功率光束 µBeam 衰减器


    可选配置表

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